Nieuws

Training bij Nikon Metrology

Training bij Nikon Metrology

16 september 2015

Om onze klanten zo optimaal mogelijk te begeleiden en te ondersteunen, hebben Alexander Vendrig en Doeke-Jan van der Meulen zich ingeschreven voor een (bij)scholing bij Nikon Metrology te Leuven België.
Tijdens de hands-on sessies worden niet alleen de unieke eigenschappen en kenmerken van de Jeol JCM-6000 NeoScope II Benchtop SEM (Scanning Electronic Microscope) besproken en uitgelicht maar ook de installatie, kalibratie en service procedures komen aanbod.
Na het volgen van deze hans-on training is Technex nog beter in staat om haar klanten te helpen.


Mocht u na het lezen van dit artikel nog vragen hebben, neem contact op via info@technex.nl !

Deel dit bericht:
Measure and move forward
Waygroup